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紫外可見近紅外分光光度計可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍,實現(xiàn)UV-Vis-NIR波段連續(xù)掃描,其應用領域廣泛,可測量固體/液體樣本在紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的特征吸收;可研究玻璃鍍膜樣品吸收/透射或反射光譜;可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區(qū)的吸收譜圖,適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等等行業(yè),是功能Z強勁的光譜分析儀器。
品牌 | 析譜 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 是 |
紫外可見近紅外分光光度計可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍,實現(xiàn)UV-Vis-NIR波段連續(xù)掃描,其應用領域廣泛,可測量固體/液體樣本在紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的特征吸收;可研究玻璃鍍膜樣品吸收/透射或反射光譜;可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區(qū)的吸收譜圖,適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等等行業(yè),是功能Z強勁的光譜分析儀器。
原理及應用:
利用物質(zhì)的分子或離子對紫外、可見及近紅外光的吸收所產(chǎn)生的紫外、可見、近紅外光譜及吸收程度,可以對物質(zhì)的組成、含量和結構進行分析和鑒定。
可檢測塊體及粉末樣品在200~2500nm范圍內(nèi)的透射率、反射率及吸收曲線; 可檢測建筑玻璃、汽車玻璃、光學鍍膜等材料在200~2500nm范圍內(nèi)的相對鏡反射率; 可采集液態(tài)樣品的紫外/可見/近紅外吸收曲線,用于樣品的結構定性分析及成分的定量分析。
紫外可見近紅外分光光度計特點:
1. 采用經(jīng)典的Czerny-Turner光學結構,其結構簡單、精度高、光譜分辨率良好;
2. 采用雙光柵、雙接收器的設計,保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區(qū)(UV-VIS-NIR)全波段的優(yōu)勢;
3. 接收器件均為進口器件,保證了儀器的高性能和穩(wěn)定度;
4. 儀器的控制(如光柵轉(zhuǎn)換、濾光片轉(zhuǎn)換、接收器轉(zhuǎn)換、波長掃描等)全部由計算機控制,接口為 USB2.0,儀器的連接簡單,極大的提高了通訊速率;
5. 狹縫寬度7檔可選,分別是(0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm)。用戶可根據(jù)實際需要任意選擇。
6. 全中文操作軟件,功能選擇簡單、易懂
技術參數(shù)
Lambda 650 850 950
原理 雙光束 雙光束 雙光束
光譜范圍 190-900nm 175-900nm 175-3300nm
帶寬 ≤0.17nm ≤0.05nm ≤0.05nm
雜散光 ≤ 0.0001%T ≤0.00007%T ≤0.00007%T
波長精度 ±0.1nm ±0.08nm ±0.08nm
波長重復性 <0.06nm <0.005nm <0.005nm
光度計精度 ±0.003A ±0.0003A ±0.0003A
光度計重復性 <0.001A <0.00008A <0.00008A
基線漂移 <0.0002A/h <0.0002A/h <0.0002A/h
基線平直 ±0.0008A ±0.0008A ±0.0008A
噪聲 <0.00005A <0.00005A <0.00005A
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